Keithley 2520 – Präzises Testsystem für gepulste Laser-Dioden
Das Keithley 2520 Pulsed Laser Diode Test System wurde speziell für die anspruchsvolle Charakterisierung und Produktionstests von Laser-Dioden entwickelt – sowohl auf Chip- als auch auf Barebene. Es vereinfacht das LIV-Testing (Light-Current-Voltage) bereits vor der Verpackung oder während der aktiven Temperaturregelung und bietet eine vollständig integrierte Lösung für den Einsatz in der Produktion.
Das System kombiniert präzise Strom- und Spannungsquellen mit hochgenauen Messfunktionen für gepulste und DC-basierte Tests. Eine programmierbare Sweep-Funktion kann auf Basis des optischen Leistungslimits automatisch gestoppt werden. Die DSP-basierten Messkanäle erfassen synchronisierte Messwerte für Lichtintensität und Spannung – ideal zur präzisen Bestimmung der Laserkennlinie.
Das Keithley 2520 unterstützt Pulsweiten von 500 ns bis 5 ms mit bis zu 4 % Duty Cycle und ermöglicht Pulsströme bis 5 A sowie kontinuierliche DC-Ströme bis 1 A. Mit einer 14-Bit-Messgenauigkeit auf drei unabhängigen Kanälen (Spannung, Front- und Rückseiten-Photodiode) liefert das System hochauflösende und reproduzierbare Ergebnisse. Ein optimierter Messalgorithmus verbessert das Signal-Rausch-Verhältnis bei gepulsten Messungen erheblich.
Zusätzlich stehen bis zu 1000 Sweep-Punkte im Pufferspeicher zur Verfügung, wodurch der GPIB-Datenverkehr während des Tests entfällt und der Durchsatz deutlich gesteigert wird. Digitale I/O-Optionen sowie IEEE-488 und RS-232 Schnittstellen ermöglichen eine nahtlose Integration in automatisierte Testumgebungen.
Das Keithley 2520 ist damit die ideale Lösung für präzise, schnelle und wiederholbare Tests von Laser-Dioden – sowohl in der Entwicklung als auch in der Serienfertigung.
